技術(shù)編號：12061786
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種應(yīng)用于反熔絲FPGA測試向量的逆向分析方法。背景技術(shù)反熔絲FPGA的架構(gòu)中包含邏輯模塊、IO模塊、反熔絲陣列等模塊，通過編程可將這些模塊有機(jī)組合最終形成目標(biāo)功能電路。一般情況下，在產(chǎn)品交付用戶使用之前需要進(jìn)行全面測試，以確保反熔絲FPGA可正常使用。然而，反熔絲FPGA屬于一次可編程器件，交付前不能接受編程，因此需要進(jìn)行編程前測試，以作為交付前的測試。一方面，反熔絲FPGA形成產(chǎn)品后在交付前需要進(jìn)行編程前的測試驗(yàn)證，另一方面，在芯片研制過程中也需要對電路進(jìn)行編程前的仿真驗(yàn)證，同為編...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。