技術(shù)編號(hào)：12032767
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及檢測(cè)設(shè)備，具體是一種平面度檢測(cè)儀。背景技術(shù)激光檢測(cè)是目前經(jīng)常使用到的檢測(cè)手段，通常使用激光檢測(cè)儀便可實(shí)現(xiàn)細(xì)微缺陷的有效檢測(cè)，比如激光檢測(cè)可以測(cè)量直線度、平面度、物體表面的孔的大小以及工件的大小或掃描工件的輪廓，隨著社會(huì)的發(fā)展激光檢測(cè)儀也越來越多的應(yīng)用于工業(yè)工廠，由于激光檢測(cè)精度高，因此需要嚴(yán)格的避免粉塵的影響，傳統(tǒng)的檢測(cè)都是在無塵室中進(jìn)行檢測(cè)，而無塵室的整體造價(jià)高，同時(shí)大面積的使用環(huán)境也難以保證完全的無塵，從而實(shí)際效果并不出色。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種平面度檢測(cè)儀，以解決上述背...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。