技術(shù)編號(hào)：12006410
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于在執(zhí)行高速檢測(cè)處理的同時(shí)保持精確度的方法以及一種物體檢測(cè)裝置。背景技術(shù)作為從圖像中檢測(cè)目標(biāo)的傳統(tǒng)方法之一，有這樣一種方法，該方法包括：利用預(yù)先學(xué)習(xí)的模型執(zhí)行檢測(cè)處理；基于檢測(cè)結(jié)果限制進(jìn)行目標(biāo)搜索的層的范圍；然后基于更準(zhǔn)確的模型執(zhí)行檢測(cè)處理。日本專利申請(qǐng)JP4498296討論了這樣一種方法，該方法包括：在分層圖像上執(zhí)行第一檢測(cè)；然后針對(duì)下一個(gè)輸入圖像僅在從第一檢測(cè)中檢測(cè)出的相同的分層圖像上執(zhí)行第二檢測(cè)。但是，根據(jù)日本專利申請(qǐng)JP4498296討論的方法，被搜索的層僅限于同一層，但...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。