技術(shù)編號：11985472
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及測厚儀探頭結(jié)構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種X射線測厚儀探頭。背景技術(shù)涂層測厚儀可無損地測量磁性金屬基體上非磁性涂層的厚度及非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆層的厚度。涂鍍層測厚儀具有測量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產(chǎn)品質(zhì)量必不可少的檢測儀器，廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域，而涂層測厚儀探頭則是其最為重要的部件，影響到測量效率及測量精度?，F(xiàn)有的測厚儀探頭結(jié)構(gòu)復(fù)雜、抗干擾能力差，容易造成測量誤差，而且采集的信號還存在失真現(xiàn)象，影響測量精度。發(fā)明內(nèi)容本實...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。