技術(shù)編號(hào)：11947061
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及相關(guān)干涉測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種相關(guān)干涉儀測(cè)向方法及裝置。背景技術(shù)干涉測(cè)量術(shù)是基于電磁波的干涉理論，通過檢測(cè)相干電磁波的干涉圖樣、頻率、振幅、相位等屬性，將其應(yīng)用于各種相關(guān)測(cè)量的技術(shù)的統(tǒng)稱。用于實(shí)現(xiàn)干涉測(cè)量術(shù)的儀器被稱作干涉儀。在當(dāng)今多個(gè)科研領(lǐng)域，干涉測(cè)量術(shù)都發(fā)揮著重要作用，包括天文學(xué)、光纖光學(xué)、工程測(cè)量學(xué)等?，F(xiàn)有技術(shù)提供了一種相關(guān)干涉儀測(cè)向方法，具體為：對(duì)于任意一個(gè)無模糊陣列，當(dāng)電磁波以某一角度入射時(shí)，在陣列中選取N對(duì)陣元，獲取這N對(duì)陣元接收電磁波的相位差根據(jù)定義的測(cè)向代價(jià)函...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。