技術(shù)編號(hào)：11946719
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種積層電容器的高壓檢測模塊、高壓檢測設(shè)備及其檢測方法，尤指一種適用于對積層電容器施予高電壓測試的檢測模塊、檢測設(shè)備及其檢測方法。背景技術(shù)隨著電子裝置的尺寸不斷地追求輕薄短小，積層電容器相較于傳統(tǒng)陶瓷電容器在體積上明顯具備優(yōu)勢，故積層電容器的需求量不斷地攀升，且電容器規(guī)格上的發(fā)展也益趨多元。然而，就現(xiàn)有積層電容器的檢測設(shè)備可容許的檢測規(guī)格及檢測方法而言，實(shí)已無法符合需求。請同時(shí)參閱圖1A及圖1B，圖1A為公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的示意圖，圖1B為公知轉(zhuǎn)盤式檢測設(shè)備的A-A線段局部剖面示意圖。...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。