技術編號：11945903
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種監(jiān)測薄膜瑕疵的裝置及方法，屬薄膜技術領域。背景技術在光學級薄膜的生產過程中，薄膜經拖動系統(tǒng)拖動至收卷，在薄膜經過某個附著異物或表面帶有凹凸損傷的拖動系統(tǒng)時，在異物應力及拖動張力作用下，會對光學級薄膜表面造成極其微小的損傷。成品表現為縱向帶有固定間距連續(xù)出現的正面凹或凸、背面與正面凹凸相反的，產品表面不平整，這種瑕疵業(yè)內稱之為墊傷。影響產品的表觀質量，降低成品率。在薄膜生產過程中，毫米級乃至微米級的異物都能造成墊傷弊病，致使墊傷具有隱蔽性，為去除墊傷，通常采用如下方法：一種是在線觀察...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。