技術(shù)編號：11944800
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于光電測試領(lǐng)域，特別涉及一種微型多通道光譜儀及其探測器的非線性修正方法。背景技術(shù)光源的光譜能量分布及光通量測量通常采用光譜儀來實(shí)現(xiàn)，傳統(tǒng)光譜儀器采用光柵或棱鏡分光，通過機(jī)械掃描獲得不同波長的光譜。本發(fā)明采用自掃描光電二極管陣列(SPD)陣列探測器實(shí)現(xiàn)光譜測量，無需機(jī)械掃描，測試速度快，體積小。用光譜儀進(jìn)行光通量測量中，要采用已知性能的標(biāo)準(zhǔn)光源定標(biāo)，然后從對未知光源的響應(yīng)與對標(biāo)準(zhǔn)光源的響應(yīng)的比值中計(jì)算出未知光源的性能。這就需要在整個(gè)測量值范圍內(nèi)要求探測器是線性的。如果一個(gè)探測器在時(shí)間t0的...
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