技術編號：11935406
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本申請總體上涉及存儲器設備。更具體地，本申請涉及測量非易失性半導體閃存中的磨損耐久性、磨損剩余、以及數據保持。這些測量可以用于塊循環(huán)、數據丟失預測、或對存儲器參數的調整。背景技術在消費者產品已經廣泛地采用非易失性存儲器系統(tǒng)(諸如閃存)?？梢园l(fā)現閃存采用不同形式，例如采用可在主機設備之間攜帶或者作為嵌入在主機設備中的固態(tài)硬盤(SSD)的便攜式存儲器卡的形式。由于非易失存儲器單元縮放至每單位面積具有更高容量的更小尺寸，因此由于編程和擦除周期導致的單元耐久性、以及干擾(例如，由于讀取或者編程)可能變得...
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