技術(shù)編號(hào)：11927975
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種基于受激發(fā)射損耗(STED)技術(shù)和雙光子激發(fā)熒光相結(jié)合的超分辨成像探頭。背景技術(shù)常規(guī)光學(xué)顯微術(shù)的分辨率由于衍射極限的存在往往被限制在半波長(zhǎng)左右，隨著人們對(duì)顯微技術(shù)分辨率的要求越來越高，如何突破衍射極限成為了發(fā)展顯微成像技術(shù)的關(guān)鍵。1994年，德國(guó)科學(xué)家S.W.Hell提出受激發(fā)射損耗（STED）顯微術(shù)，突破了傳統(tǒng)顯微鏡的衍射極限。雙光子顯微鏡因其對(duì)組織損傷小、成像深度深等特點(diǎn)是目前觀察活體組織內(nèi)部結(jié)構(gòu)的重要方法。若將STED技術(shù)融合到雙光子成像內(nèi)窺鏡中，可大大提高內(nèi)窺鏡探頭對(duì)活...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。