技術(shù)編號(hào):11924173
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。半導(dǎo)體器件相關(guān)申請(qǐng)的交叉引用本申請(qǐng)要求2015年11月9日提交給韓國(guó)知識(shí)產(chǎn)權(quán)局的申請(qǐng)?zhí)枮?0-2015-0157004的韓國(guó)申請(qǐng)的優(yōu)先權(quán),通過(guò)引用其整體合并于此。技術(shù)領(lǐng)域各個(gè)實(shí)施例總體而言涉及一種半導(dǎo)體器件,且更具體而言,涉及一種包括錯(cuò)誤校正碼電路的半導(dǎo)體器件。背景技術(shù)隨著被施加至存儲(chǔ)單元的電壓降低和單元尺寸減小,容軟錯(cuò)誤(softerrortolerance)的惡化一直是個(gè)問(wèn)題。在使用用于校正數(shù)據(jù)錯(cuò)誤的錯(cuò)誤校正碼(在下文被稱(chēng)為ECC)電路的半導(dǎo)體集成器件中,已經(jīng)提出了將奇偶校驗(yàn)位添加至標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)...
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