技術(shù)編號：11912067
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于柔性電子測試相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域，更具體地，涉及一種柔性電子抗拉伸與抗撓曲性能測試系統(tǒng)。背景技術(shù)疲勞是柔性電子材料在低于其抗彎強(qiáng)度極限的交變應(yīng)力作用下，發(fā)生突發(fā)斷裂的失效的形式，其與靜力破壞有著本質(zhì)區(qū)別，相關(guān)研究表明，約有50％-90％的零件破壞和疲勞裂紋的產(chǎn)生和發(fā)展是分不開。以柔性印刷電路板為典型代表的柔性電子由于具備動(dòng)態(tài)的彎曲、扭轉(zhuǎn)、折疊等特點(diǎn)，目前在多個(gè)領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用，其使用過程就是一個(gè)拉壓卷曲再恢復(fù)的過程，故其受到交變應(yīng)力應(yīng)變作用的概率和作用時(shí)間遠(yuǎn)大于受恒定載荷作用的概率和時(shí)間，...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。