技術(shù)編號：11858860
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于高光譜遙感領(lǐng)域，具體涉及一種基于子空間的高光譜亞像元目標(biāo)盲提取檢測方法。背景技術(shù)高光譜成像技術(shù)在物質(zhì)信息探測方面有著舉足輕重的地位，其對遙感領(lǐng)域的發(fā)展起到了重要的作用，高光譜目標(biāo)檢測是從高光譜影像中識別出地物的關(guān)鍵技術(shù)，其本質(zhì)在于判斷目標(biāo)是否包含于高光譜像素中。在傳感器成像的過程中當(dāng)目標(biāo)充滿整個(gè)像元時(shí)就產(chǎn)生的目標(biāo)為純像元目標(biāo)，此類目標(biāo)利用經(jīng)典檢測方法能夠很容易探測到；當(dāng)目標(biāo)尺寸小于一個(gè)像元時(shí)，它就以亞像元的形式存在，此時(shí)的探測就變成亞像元目標(biāo)探測問題。目標(biāo)探測發(fā)展過程中常見的模型為線性...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。