技術(shù)編號(hào)：11855038
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種光學(xué)部件的灰塵檢測(cè)裝置，尤其是涉及一種光學(xué)掃描設(shè)備專用光學(xué)部件的灰塵檢測(cè)裝置。背景技術(shù)光學(xué)掃描設(shè)備如條形碼掃描儀，其產(chǎn)品中包括一個(gè)楔形光學(xué)部件，該楔形光學(xué)部件的結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括一楔形框架10，楔形框架10上設(shè)置有通光口20和下窗口30，楔形框架10內(nèi)設(shè)置有反射鏡40。該光學(xué)掃描設(shè)備在組裝過(guò)程中，楔形光學(xué)部件的內(nèi)部容易進(jìn)入灰塵。為確保整個(gè)光學(xué)掃描設(shè)備的產(chǎn)品性能，需對(duì)該楔形光學(xué)部件進(jìn)行雜散光和Blemish檢測(cè)。檢測(cè)過(guò)程通常在暗箱內(nèi)進(jìn)行。光線A自通光口20入射，經(jīng)反射鏡40反射...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。