技術(shù)編號：11806986
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。具有穩(wěn)定性監(jiān)測的反饋控制器參數(shù)生成本申請是申請?zhí)枮椋?01080018605.3、名稱為“具有穩(wěn)定性監(jiān)測的反饋控制器參數(shù)生成”的中國專利申請的分案申請，其母案申請日為2010年4月30日。相關(guān)申請的交叉引用本申請要求于2009年5月1日提交的第61/174756號美國臨時申請的優(yōu)先權(quán)。技術(shù)領域本公開總體涉及電磁材料測試系統(tǒng)。具體而言，本發(fā)明涉及反饋控制器參數(shù)生成和初始控制器穩(wěn)定性監(jiān)測。發(fā)明內(nèi)容總體而言，在一些方面，通過向控制系統(tǒng)輸入具有預定波形的測試信號、自動監(jiān)測材料測試系統(tǒng)的輸出以及將輸出與閾...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。