技術(shù)編號：11772212
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請涉及高能物理領(lǐng)域，尤其涉及一種用于測量束流剖面的探測器。背景技術(shù)在高能物理領(lǐng)域中，散裂中子源調(diào)束時需要通過多絲型探測器對束流的剖面分布和位置信息進行快速采集。探測器的探頭采用導(dǎo)電細(xì)絲作為測量信號絲，其探測原理為，高速束流轟擊在信號絲表面時，信號絲會產(chǎn)生微弱的電流，通過檢測信號絲的電流信號，就可以確定束流的位置及剖面信息。當(dāng)信號絲間距較大時，剖面信息精度就會下降，甚至?xí)霈F(xiàn)束流由信號絲之間的空隙穿過的情況，從而無法實現(xiàn)快速測量目的。因此，信號絲越密集，探測器探測精度越好。探測器使用過程中，由...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。