技術(shù)編號：11772024
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種eFlash串口測試電路及其測試方法，屬于半導(dǎo)體集成電路測試技術(shù)領(lǐng)域。背景技術(shù)eFlash(嵌入式閃存)的控制信號有很多，包括地址線(XADR、YADR)、數(shù)據(jù)輸入(DIN)、數(shù)據(jù)輸出(DOUT)、使能信號(XE、YE、SE)、編程信號(PROG)、擦除信號(ERASE)等等。在測試時，這些管腳必須按照一定的時序，置于所需要的電平，從而完成eFlash的各種測試操作，如果將這些管腳完全與測試儀的通道相連，會大大增加芯片的管腳數(shù)量，所以一般采用串口設(shè)計來減少eFlash測試所需的管腳...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。