技術(shù)編號：11759025
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及大口徑紅外準(zhǔn)直系統(tǒng)領(lǐng)域，特別是基于五棱鏡掃描法的大口徑紅外準(zhǔn)直系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置。背景技術(shù)近年來，隨著空間科技、國防軍事等領(lǐng)域的發(fā)展，大口徑光學(xué)元件的制造技術(shù)水平有了長足的進(jìn)步，特別是在大口徑光學(xué)加工設(shè)備與工藝技術(shù)方面取得了較大的進(jìn)展，使大口徑光學(xué)元件向著更高精度，更大口徑方向發(fā)展，達(dá)到了提高空間分辨率、增大視場等要求。對大口徑紅外準(zhǔn)直系統(tǒng)的校準(zhǔn)精度和可靠性提出了更高的要求，研究大口徑紅外準(zhǔn)直系統(tǒng)校準(zhǔn)裝置就成為了一種必然的趨勢。目前常用的方法有哈特曼檢驗(yàn)法、夏克—哈特曼法、子孔徑波面拼接...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。