技術(shù)編號(hào)：11726621
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種位移測(cè)量裝置及測(cè)量方法，尤其涉及一種二維位移測(cè)量及測(cè)量方法，屬于激光測(cè)量領(lǐng)域。背景技術(shù)激光回饋效應(yīng)是在激光系統(tǒng)中，激光器輸出光被外部物體反射或散射后，部分光回到激光器內(nèi)與腔內(nèi)光混合后引起的激光器的輸出特性變化的現(xiàn)象?；诩す饣仞佇?yīng)的激光移頻回饋技術(shù)除了具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，非接觸、無損檢測(cè)等優(yōu)點(diǎn)外，還具有靈敏度高，可對(duì)粗糙表面進(jìn)行測(cè)量的特點(diǎn)。目前，激光回饋技術(shù)已經(jīng)被應(yīng)用于精密位移測(cè)量、速度測(cè)量、形貌測(cè)量、振動(dòng)測(cè)量、位相延遲測(cè)量等領(lǐng)域。傳統(tǒng)的離面位移和面內(nèi)位移測(cè)量技術(shù)主要有電子散斑干涉、數(shù)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。