技術(shù)編號：11706085
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及熔石英光學(xué)元件拋光后激光負載能力評價方法，具體涉及一種基于光熱弱吸收的熔石英元件零概率損傷閾值預(yù)測方法，用于利用光熱檢測手段評價熔石英元件表面激光負載能力，預(yù)測熔石英元件激光損傷閾值。背景技術(shù)高功率激光技術(shù)的發(fā)展，對光學(xué)元件的激光負載性能提出了更高的要求。目前，熔石英元件廣泛運用于高功率激光器之中，其對輻照激光的吸收，會導(dǎo)致自身內(nèi)部溫度升高，表面發(fā)生熱變形和內(nèi)部折射率發(fā)生變化，最終發(fā)生激光損傷。因此。熔石英吸收損耗是限制激光器規(guī)模和能量輸出水平的重要因素。而實現(xiàn)熔石英元件吸收損耗的準(zhǔn)確...
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