技術(shù)編號：11652360
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于環(huán)境分析化學(xué)領(lǐng)域，更具體地涉及一種修飾納米金光學(xué)探針檢測銻離子含量的方法。背景技術(shù)銻是一種公認(rèn)的有毒有害元素。銻在水、土壤和生物體等介質(zhì)中均有分布，其來源包括天然源和人為源，且以后者為主。長期暴露銻，會引起人體內(nèi)代謝紊亂，導(dǎo)致多個系統(tǒng)的損害。因此，美國環(huán)保署和世界衛(wèi)生組織分別規(guī)定飲用水中銻的安全閾值為6.0和20μg/L。銻的毒性和它的形態(tài)密切相關(guān)。在環(huán)境中，無機形態(tài)的銻Sb(III)和Sb(V)的量一般遠(yuǎn)高于有機形態(tài)的銻，而且Sb(III)的毒性約為Sb(V)毒性的10倍。因此準(zhǔn)確測...
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