技術編號:11621800
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及半導體器件的制造。更具體地,本發(fā)明涉及表面涂層處理。背景技術在半導體晶片處理期間,等離子體處理室用于處理半導體器件。涂層被用于保護室表面。發(fā)明內(nèi)容為了實現(xiàn)上述并根據(jù)本發(fā)明的目的,提供了一種用于修整在襯底上的厚度小于150μm的陶瓷層的方法。清潔所述陶瓷層。用脈沖準分子激光束以3-300Hz的重復頻率掃描所述陶瓷層的區(qū)域。在另一實現(xiàn)方式中,提供了一種用于修整在襯底上的厚度小于150μm的陶瓷層的方法,所述陶瓷層包括氟化物、氟氧化物或包含鑭系III族或IV族元素的氧化物中的至少一種。清潔所...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。