技術編號：11620745
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及芯片設計與制造領域，尤其涉及一種實現(xiàn)新型的SoC驗證的交互機制的方法。背景技術隨著設計與制造技術的發(fā)展，集成電路設計從晶體管的集成發(fā)展到邏輯門的集成，現(xiàn)在又發(fā)展到IP的集成，即SoC(System-on-Chip)設計技術。SoC可以有效地降低電子/信息系統(tǒng)產品的開發(fā)成本，縮短開發(fā)周期，提高產品的競爭力，是當前工業(yè)界采用的最主要的產品開發(fā)方式。但是隨著生產工藝越來越復雜，以及芯片規(guī)模越來越大，使得SoC的驗證復雜度呈現(xiàn)指數(shù)型增長。因此，通過測試平臺添加有約束的隨機激勵的驗證方法成為了業(yè)...
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該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
請注意，此類技術沒有源代碼，用于學習研究技術思路。