技術(shù)編號：11589322
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及模擬集成電路領(lǐng)域，尤其涉及一種用于比較器反轉(zhuǎn)電壓閾值修調(diào)判斷的電路。背景技術(shù)隨著集成電路高性能指標(biāo)的要求越來越高，芯片設(shè)計面臨高精度的要求日趨明顯，尤其是高精度的基準(zhǔn)源電路等設(shè)計，由于工藝誤差、失調(diào)等無法避免的因素，工藝廠生產(chǎn)出的芯片的電容和電阻值都有一定的工藝誤差，這些誤差會直接影響電路的性能甚至功能。為了解決這類工藝誤差問題，在芯片正常使用之前，需要利用修調(diào)技術(shù)來修正，使電路參數(shù)更精確、一致性更好。傳統(tǒng)的修調(diào)基準(zhǔn)方法只能根據(jù)測試基準(zhǔn)值的偏差進行修調(diào)，其無法完成對設(shè)定的基準(zhǔn)閾值下比較...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。