技術(shù)編號：11583
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。專利摘要本實(shí)用新型設(shè)計(jì)一種超聲波陣列探頭環(huán)的探頭線性性能測試裝置，特別適用于超聲波陣列探頭缺陷檢測領(lǐng)域。其技術(shù)方案該裝置由固定裝置、水平滑動(dòng)裝置、旋轉(zhuǎn)裝置組成，通過將旋轉(zhuǎn)裝置插入固定裝置內(nèi)，并用螺釘將固定裝置與超聲波探頭環(huán)連接，調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)裝置使測試板對準(zhǔn)超聲探頭進(jìn)行超聲波探頭陣列環(huán)上探頭的線性性能測試，移動(dòng)水平導(dǎo)槽，并結(jié)合水平刻度板和水平導(dǎo)槽上的刻度準(zhǔn)確的改變測試板距檢測探頭的距離，從而可以方便的測試出檢測器各探頭的線性性能。本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)能夠方便、準(zhǔn)確的測試出超聲波陣列探頭環(huán)各探頭的線性性能。專利說明超聲波探頭陣列...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。