技術(shù)編號：11560457
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型屬于透照設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種適用于大厚度比復(fù)雜構(gòu)件的X射線透照設(shè)備。背景技術(shù)X射線成像檢測系統(tǒng)在對具有大厚度的復(fù)雜結(jié)構(gòu)件進(jìn)行X射線透照成像時，傳統(tǒng)的固定電壓成像模式易出現(xiàn)過曝光和欠曝光現(xiàn)象，導(dǎo)致構(gòu)件結(jié)構(gòu)信息缺失嚴(yán)重。另外，變電壓X射線成像技術(shù)，通過X射線檢測系統(tǒng)的自適應(yīng)控制、有效信息的提取、信息融合等過程，但是，由于X射線的多能性，其融合權(quán)值不準(zhǔn)確，需要人工進(jìn)行調(diào)整，實施復(fù)雜，對材料和系統(tǒng)物理條件的依賴性嚴(yán)重，這些實驗室的設(shè)備限制了在現(xiàn)實工程上的應(yīng)用。X射線數(shù)字成像已成為航空、航...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。