技術編號：11559528
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型涉及老化測試設備技術領域，尤其涉及一種老化房。背景技術電子產(chǎn)品在老化房內(nèi)進行老化測試時，由于很多電子產(chǎn)品本身會發(fā)熱，因此當老化房溫度上升到老化測試溫度時，經(jīng)過長時間測試，老化房內(nèi)溫度會由于待測電子產(chǎn)品的發(fā)熱持續(xù)升溫，導致實際測試溫度偏高，損壞待測試產(chǎn)品；傳統(tǒng)的老化房在老化房內(nèi)溫度高于測試溫度時，僅僅是停止加熱，這種方式很難及時降溫，甚至還會造成溫度持續(xù)性升高。發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種老化房，其具有能快速升溫和快速降溫的特點。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用下述技術方案：一種老...
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