技術(shù)編號：11529970
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開涉及離子遷移譜分析方法和裝置，以及尤其涉及用于飛行時(shí)間離子遷移譜分析的方法和裝置，并且還尤其針對在雙模式離子遷移譜單體(cell)中使用的方法和裝置。背景技術(shù)離子遷移譜儀(IMS)可以通過使材料離子化并測量所得到的離子在已知電場下行進(jìn)已知距離所花費(fèi)的時(shí)間來從感興趣樣本中識別材料。每個(gè)離子的飛行時(shí)間可以通過檢測器來測量，并且飛行時(shí)間與離子通過氣體的遷移率相關(guān)聯(lián)。離子的遷移率與其質(zhì)量和碰撞截面有關(guān)。因此，通過測量檢測器中離子的飛行時(shí)間，推斷離子的身份是可行的。這些飛行時(shí)間可以圖形地或數(shù)字地被顯...
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