技術編號:11516747
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及微波天線測試領域。更具體地,涉及一種可程控切換的微波多天線測試裝置。背景技術在進行多天線微波產(chǎn)品測試時,需要確定各天線安裝的正確性及連接可靠性,即對微波產(chǎn)品各個天線的極性進行測試,由于微波的空間輻射性,目前進行天線極性測試時,廣泛采用微波天線罩形式進行單個天線測試,并人工更換逐個進行其余天線測試,效率較低,無法適應產(chǎn)品自動化測試需求。因此,需要提供一種可程控切換的微波多天線測試裝置。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種可程控切換的微波多天線測試裝置,解決現(xiàn)有技術中在進行多天線微波產(chǎn)品測試時...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。