技術(shù)編號：11515851
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及納米光學檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及二維表面等離子體最佳激發(fā)角特征提取的方法。背景技術(shù)表面等離子體(SurfacePlasmonResonance，SPR)是金屬表面的自由電子流在外部電場如電子流或入射光場等的作用下進行規(guī)則的振蕩運動而形成的一種表面電磁波，能夠納米薄膜或結(jié)構(gòu)進行精確地定量表征，在生物醫(yī)學、材料、化學等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。常用的SPR耦合方法有棱鏡式和高數(shù)值孔徑(NA)油浸顯微物鏡耦合兩種，其中棱鏡耦合SPR技術(shù)對應(yīng)的SPR最佳激發(fā)角特征通常是一條黑色的光帶，識別方式簡單且已相...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。