技術(shù)編號(hào)：11485947
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于電子溫度探測(cè)領(lǐng)域，具體涉及一種基于準(zhǔn)同視軸的ICF熱斑電子溫度探測(cè)設(shè)備。背景技術(shù)慣性約束聚變（ICF）靶丸內(nèi)爆壓縮的最終目標(biāo)是熱斑物質(zhì)達(dá)到高的溫度和高的面密度，熱斑的溫度和面密度是聚變點(diǎn)火的重要判斷依據(jù)。其中溫度是產(chǎn)生聚變反應(yīng)所需的必要條件，只有達(dá)到一定的溫度，聚變反應(yīng)才可能發(fā)生。因此對(duì)電子溫度的精確探測(cè)是研究潛含在熱斑狀態(tài)下物理問(wèn)題的基礎(chǔ)之一，更是研究聚變點(diǎn)火的重點(diǎn)和難點(diǎn)。而現(xiàn)有診斷技術(shù)及設(shè)備存在著以下不足：1、現(xiàn)有各種多通道電子溫度探測(cè)設(shè)備在觀測(cè)靶點(diǎn)同一位置時(shí)，由不同通道之間視...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。