技術(shù)編號(hào):11407046
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及JTAG調(diào)試領(lǐng)域,尤其是一種JTAG遠(yuǎn)程調(diào)試方法。背景技術(shù)隨著嵌入式系統(tǒng)的不斷發(fā)展和應(yīng)用越來(lái)越廣泛,針對(duì)不同應(yīng)用的嵌入式軟件的開(kāi)發(fā)也越來(lái)越受到重視。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域,應(yīng)用軟件的開(kāi)發(fā)越發(fā)變得昂貴,消耗的時(shí)間也越來(lái)越多。一個(gè)好的調(diào)試器可以給予嵌入式軟件開(kāi)發(fā)人員很好的幫助,達(dá)到事半功倍的效果。隨著芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜度越來(lái)越高,軟件開(kāi)發(fā)和系統(tǒng)調(diào)試階段是產(chǎn)品上市時(shí)間的重要部分。在板級(jí),通過(guò)軟件模擬、驗(yàn)證和分析等系統(tǒng)功能調(diào)試已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足功能正確性調(diào)試和故障定位等要求,所以微處理器硬件上支持片上測(cè)試和...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類技術(shù)沒(méi)有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。