技術(shù)編號：11405433
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種單晶片和相控陣超聲組合探頭。背景技術(shù)相控陣技術(shù)近年來被廣泛應(yīng)用于工業(yè)零部件的超聲檢測。與常規(guī)的單晶片超聲檢測不同，相控陣技術(shù)采用具有復(fù)數(shù)個晶片的相控陣探頭進行檢測。通過控制每個晶片發(fā)射和接收超聲波的延遲時間，可以控制超聲聲束的偏轉(zhuǎn)、聚焦等特定行為。超聲相控陣探頭的設(shè)計基于惠更斯原理。換能器由多個相互獨立的壓電晶片組成陣列，每個晶片稱為一個單元，按一定的規(guī)則和時序用電子系統(tǒng)控制激發(fā)各個單元，使陣列中各單元發(fā)射的超聲波疊加形成一個新的波陣面。同樣，在反射波的接收過...
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