技術(shù)編號：11383961
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。測定探頭本申請引用2016年2月26日提交的日本專利申請第2016-36472號的包括說明書、附圖及權(quán)利要求書在內(nèi)的全部公開內(nèi)容。技術(shù)領(lǐng)域本發(fā)明涉及一種測定探頭，特別涉及一種構(gòu)造簡易并且能夠確保高測定靈敏度的測定探頭。背景技術(shù)作為與被測定物的表面接觸來測定被測定物的表面的形狀的測定裝置，例如已知三維測定機(jī)等。在三維測定機(jī)中，使用用于與被測定物接觸來檢測該被測定物的表面形狀的測定探頭(日本特開平10-288502號公報(bào)，以下稱為專利文獻(xiàn)1)。專利文獻(xiàn)1所示的測定探頭具備：測針，其具有用于與被測定物...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。