技術(shù)編號：11374367
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及檢測設(shè)備，具體是一種高分子材料密度測試設(shè)備。背景技術(shù)核磁共振是目前經(jīng)常使用到的檢測手段，通常使用核磁共振儀便可實現(xiàn)細(xì)微缺陷的有效檢測，由于核磁共振精度高，因此需要嚴(yán)格的避免粉塵的影響，傳統(tǒng)的檢測都是在無塵室中進(jìn)行檢測，而無塵室的整體造價高，同時大面積的使用環(huán)境也難以保證完全的無塵，從而實際效果并不出色。實用新型內(nèi)容本實用新型的目的在于提供一種高分子材料密度測試設(shè)備，以解決上述背景技術(shù)中提出的問題。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供如下技術(shù)方案：一種高分子材料密度測試設(shè)備，包括底座，所述...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。