技術(shù)編號：11341897
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光學(xué)設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種光學(xué)分析測試設(shè)備。背景技術(shù)在人們的工作學(xué)習(xí)生活中，為滿足一些特定活動場合的要求，常常會利用各種光學(xué)設(shè)備對現(xiàn)場的光線狀況進(jìn)行檢測?，F(xiàn)有的光學(xué)分析測試設(shè)備雖然能滿足人們一定的需求，但是在測試分析過程中，缺乏對光源光向準(zhǔn)確的判斷，在實際應(yīng)用中，由于光線傳播方向與原先預(yù)計的方向存在偏差，使設(shè)備對光線的強(qiáng)度、亮度等參數(shù)存在誤差，不僅如此，由于設(shè)備通常為封閉的裝置，設(shè)備在長期運行后，內(nèi)部元器件產(chǎn)生的熱量逐漸堆積，使設(shè)備內(nèi)部溫度升高，在高溫環(huán)境中，不僅會影響設(shè)備元器件的工作...
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