技術(shù)編號(hào):11333240
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本公開(kāi)涉及包括稀土鹵化物的閃爍晶體以及包括這類閃爍晶體的輻射檢測(cè)設(shè)備。背景技術(shù)NaI:Tl為極常見(jiàn)并且熟知的閃爍晶體。期望對(duì)NaI:Tl閃爍晶體的進(jìn)一步改進(jìn)。附圖說(shuō)明在附圖中以舉例方式說(shuō)明實(shí)施例,并且不作限制。圖1包括可用于醫(yī)學(xué)成像的根據(jù)實(shí)施例的輻射檢測(cè)設(shè)備的圖示。圖2和圖3包括可用于鉆探或測(cè)井的根據(jù)實(shí)施例的輻射檢測(cè)設(shè)備的圖示。圖4包括對(duì)于Sr共摻雜和標(biāo)準(zhǔn)樣本在室溫和1微秒脈沖積分下暴露于662keV能量的γ輻射時(shí)所獲得的。圖5包括對(duì)于La共摻雜和標(biāo)準(zhǔn)樣本在室溫和1微秒脈沖積分下暴露于662ke...
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