技術(shù)編號：11332832
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及觀測對象物和投射結(jié)構(gòu)照明的光學(xué)系統(tǒng)或具有結(jié)構(gòu)的檢測系統(tǒng)相對位移的動態(tài)高速高靈敏度成像技術(shù)。本申請基于2015年2月24日在日本申請的日本特愿2015-033520號要求優(yōu)先權(quán)，其內(nèi)容援用于本文。背景技術(shù)日本特開2014-175819號公報(專利文獻1)公開了包括排列成二維陣列狀的電磁波檢測元件的成像系統(tǒng)。使用了陣列型檢測元件的成像裝置存在如下問題：因使元件動作的電性限制而造成拍攝速度有限，且價格昂貴，尺寸也大。日本特表2006-520893號公報(專利文獻2)公開了單一像素檢測裝置。另...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。