技術(shù)編號：11291639
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于集成電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，尤其具體涉及一種動態(tài)比較器噪聲性能的控制方法及系統(tǒng)。背景技術(shù)隨著CMOS工藝技術(shù)的不斷進(jìn)步，市場對低功耗應(yīng)用的需求與日俱增，器件尺寸正逐步縮小，電源電壓也逐步降低，電路隨機(jī)誤差(器件熱噪聲和閃爍噪聲)對系統(tǒng)性能的影響相比確定性誤差(失調(diào)、遲滯等)而言更加凸顯。動態(tài)比較器用以在周期性時鐘信號的控制下比較輸入信號與參考電壓的相對大小，并將判決結(jié)果以數(shù)字邏輯電平的方式進(jìn)行輸出。比較器的確定性誤差和隨機(jī)誤差是影響其判決準(zhǔn)確度的主要因素，而電路隨機(jī)誤差主要表現(xiàn)為器件的噪聲性能。...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)注重原理思路，無完整電路圖，適合研究學(xué)習(xí)。