技術(shù)編號：11287364
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種X射線測量設(shè)備的圖像重建方法、結(jié)構(gòu)物的制造方法、X射線測量設(shè)備的圖像重建程序以及X射線測量設(shè)備。背景技術(shù)作為一種無需破壞物體即可獲得物體內(nèi)部信息的設(shè)備，例如，了解到有一種X射線設(shè)備，用以對物體照射X射線，并對透過該物體的X射線進行檢測。該X射線設(shè)備具有照射X射線的X射線源，可檢測透過物體的X射線，并對物體內(nèi)部進行觀察(請參照專利文獻1)。由此，獲取物體內(nèi)部信息。先行技術(shù)文獻專利文獻1:美國專利申請公開2010/0098209號公報然而，采用上述X射線設(shè)備獲取的圖像，是由照射到物體上...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。