技術(shù)編號(hào)：11287357
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及對被檢物的瑕疵或污垢等缺陷進(jìn)行檢查的檢查裝置以及檢查系統(tǒng)的技術(shù)領(lǐng)域。背景技術(shù)以往，作為進(jìn)行容器的檢查等的裝置，公開了能夠通過1個(gè)檢查轉(zhuǎn)子檢查不同的檢查內(nèi)容的裝置（參照專利文獻(xiàn)1）。現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1：日本特開2012-202767號(hào)公報(bào)。發(fā)明內(nèi)容發(fā)明要解決的課題可是，根據(jù)不同的檢查內(nèi)容，關(guān)于檢查裝置，使用分別不同的檢查裝置，因此，需要多個(gè)檢查裝置，并且，需要配置多個(gè)檢查裝置的空間，成為高成本的裝置。本發(fā)明是鑒于這樣的情況而完成的，其目的在于提供能夠通過簡單的構(gòu)造同時(shí)進(jìn)行亮暗...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。