技術(shù)編號：1123017
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種補償磁場偏移的數(shù)據(jù)采集方法、補償磁場偏移的方法以及MRI(磁共振成像)裝置，更具體地說涉及一種通過補償磁場偏移并降低整個掃描時間來改善圖像質(zhì)量的補償磁場偏移的數(shù)據(jù)采集方法、補償磁場偏移的方法以及MRI裝置。在日本未審查專利出版物No.H1-141656中所公開的在MRI裝置中補償磁場偏移的方法中對要采集的成像數(shù)據(jù)的每個視圖收集磁場偏移補償?shù)臄?shù)據(jù)，并基于由此所收集的磁場偏移補償?shù)臄?shù)據(jù)可以調(diào)整流經(jīng)初級磁場線圈的電流以補償磁場偏移。在依據(jù)上述的已有...
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