技術(shù)編號：11214674
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光譜分析技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種利用全聚焦技術(shù)測全元素含量的裝置。背景技術(shù)目前，國內(nèi)外X熒光能譜分析儀(以下簡稱能譜儀)主要用于周期表中K以上的中等或重元素分析，如果將能譜儀用于Na→Cl等輕元素分析，其分析精度均比較差，因此輕元素分析領(lǐng)域仍以波譜儀為主導(dǎo)。最近幾年，出現(xiàn)了對X光管的相關(guān)譜線(CrK2或AgLa1)進行單色聚焦的能譜分析新技術(shù)。采用此種新技術(shù)能夠高精度、高靈敏度分析Na→Cl的各種輕元素，但能同時分析輕元素的全元素能譜分析儀，則尚在探索過程中。綜上所述，如何提高能譜儀的...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。