技術(shù)編號(hào)：11176039
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及地質(zhì)勘探技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種物探儀及其剖面圖成像方法。背景技術(shù)目前，物探技術(shù)研究應(yīng)用廣泛。例如，基于天然電磁場(chǎng)物探測(cè)量技術(shù)發(fā)展引人注目，尤其是其在抗干擾性能和數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性方面所具有優(yōu)異特性愈發(fā)突出。現(xiàn)有的物探儀大多具有輕便、快捷等特點(diǎn)，其主要實(shí)現(xiàn)的功能是數(shù)據(jù)的采集；采集之后的數(shù)據(jù)需通過第三方予以處理成圖。傳統(tǒng)的做法是使用天然電場(chǎng)選頻儀對(duì)大地不同頻率的電場(chǎng)信號(hào)進(jìn)行采集，采集到的數(shù)據(jù)導(dǎo)出到電腦再使用專業(yè)的數(shù)據(jù)處理軟件(如Surfer、Grapher軟件等)進(jìn)行分析處理。其中數(shù)據(jù)處理需要很...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。