技術編號：11073915
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型屬于半導體測試技術領域，更具體地說，涉及一種DIP測試多工位防呆裝置。背景技術半導體可靠性測試是半導體制造中一道重要工序，其目的是檢測制造的半導體器件電性是否合格，從而剔除掉不合格的產品。進行半導體可靠性測試時，先將待測樣品(通常是經過簡單封裝的芯片)插到DUT(deviceundertest，DUT)板上，再將DUT板接到測試機臺上，通過測試機臺的測試獲得相應的測試數(shù)據(jù)，由此可見，DUT板質量的好壞直接影響到半導體可靠性測試的測試結果。TI測試主機為VLCT，分選機為中藝重力式分選機...
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