技術(shù)編號：10953854
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。電工、電子、機(jī)電設(shè)備等正常使用時(shí)，處于不同的工作環(huán)境中，設(shè)備的使用壽命會隨著環(huán)境中光照輻射，鹽水侵蝕，清洗液、油污等污染物浸泡，高溫、低溫等條件的變化而變化?，F(xiàn)有技術(shù)中，多采用各種模擬測試系統(tǒng)來模擬設(shè)備的使用環(huán)境，測試其使用穩(wěn)定性及壽命。然而，目前的各種模擬系統(tǒng)功能單一，結(jié)構(gòu)較復(fù)雜，僅能模擬一種條件，不能同時(shí)模擬多種使用條件；同時(shí)現(xiàn)有的各種模擬系統(tǒng)，不能根據(jù)試驗(yàn)材料的大小進(jìn)行調(diào)整，使一個(gè)較小試驗(yàn)材料對應(yīng)較大的試驗(yàn)空間，不利于節(jié)能環(huán)保，同時(shí)增大了試驗(yàn)成本。申...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。