技術(shù)編號(hào)：10854116
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。破壞性試驗(yàn)是指只有將受檢驗(yàn)樣品破壞后才能進(jìn)彳丁檢驗(yàn)，或者在檢驗(yàn)過程中受檢驗(yàn)樣品被破壞或消耗的檢驗(yàn)。進(jìn)行破壞性檢驗(yàn)后被檢驗(yàn)樣品完全喪失了原有的使用價(jià)值。如金屬材料的拉伸試驗(yàn)，電子設(shè)備的加速惡化試驗(yàn)均屬破壞性試驗(yàn)。通常在進(jìn)行破壞性試驗(yàn)的時(shí)候需要固定夾具。在現(xiàn)有的破壞試驗(yàn)夾具中對(duì)金屬的固定不是很牢固，在固定金屬之后需要試驗(yàn)，由于固定不夠穩(wěn)固在拉伸時(shí)會(huì)造成試驗(yàn)的金屬從夾具中掉落，被迫停止了試驗(yàn)的步伐，不僅浪費(fèi)了過多的時(shí)間，還對(duì)試驗(yàn)的結(jié)果造成了推遲。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。