技術編號：10824957
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。在半導體芯片的研發(fā)及大規(guī)模生產過程中，均需要對芯片的各類性能進行測試，芯片的測試通常需要使用對應的測試基臺(tester)和測試板(DUT板)，例如用于功能測試(funct1n test，FT)的測試板等。FT測試是檢驗芯片的功能是否完好的必不可少的一個環(huán)節(jié)。通常測試板上連接有用于放置待測試芯片的測試座(socket)，測試基臺提供的外部測試信號通過測試板送到測試座的引腳，進而對待測芯片進行測試。芯片測試座是測試裝置中的關鍵部件。測試座用于將芯片定位以及完...
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