技術(shù)編號：1073043
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。一般來說，本發(fā)明涉及計算機(jī)層析X-射線攝影(CT)成象，更具體地說，本發(fā)明涉及在成象系統(tǒng)中X-射線源電壓的測量。在至少一種已知CT系統(tǒng)構(gòu)造中，一個X-射線源投射一扇形束，該扇形束經(jīng)過校準(zhǔn)位于卡笛爾坐標(biāo)系的X-Y平面內(nèi)，這個平面通常被稱為“成象平面”。X-射線束穿過被成象的物體，例如一個病人。射線束在被物體衰減之后，照射到一個輻射探測器陣列上。在探測器陣列接收到的經(jīng)過衰減射線束輻射強(qiáng)度與X-射線束被物體衰減的程度有關(guān)。探測器陣列中的每一個探測器單元產(chǎn)生一個獨(dú)...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。