技術(shù)編號(hào):10723151
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 干涉儀測(cè)相位差測(cè)向體制普遍應(yīng)用于低軌無(wú)源測(cè)向系統(tǒng),是一種重要的測(cè)向體 制。由于衛(wèi)星平臺(tái)限制和噪聲影響,測(cè)向系統(tǒng)存在相位差模糊、測(cè)向模糊(即多個(gè)方向無(wú)法 唯一選擇)和錯(cuò)誤解模糊(即錯(cuò)誤選擇了一個(gè)方向)的問(wèn)題,成為干涉儀測(cè)相位差測(cè)向體制 高效應(yīng)用的制約因素。其中,相位差模糊和測(cè)向模糊問(wèn)題已有廣泛的研究,而錯(cuò)誤解模糊問(wèn) 題則鮮有研究。 常用的解模糊方法有基于t檢驗(yàn)與F檢驗(yàn)的判斷方法,但這兩種方法仍然存在無(wú)法 解模糊甚至錯(cuò)誤解模糊的概率,特別當(dāng)基線波長(zhǎng)比較大或相...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。